Messmethoden

Auswahl an Messmethoden, die uns in unserer täglichen Forschung zur Verfügung stehen:

Optische Spektroskopie für die Material- und Bauelemententwicklung

  • Zeitintegrierte Photo- und Elektrolumineszenz (4–325K)
  • Zeitaufgelöste Photolumineszenz (Zeitauflösung 2ps/ 4–325K)
  • Mikrophotolumineszenz (Ortsauflösung 500nm)
  • Einzelphotonenspektroskopie
  • Polarisationsaufgelöste Spektroskopie auf Basis der Müller-Matrix-Analyse
  • Magnetfeldabhängige Spektroskopie bis 3.5T
  • Raman-Spektroskopie
  • Verstärkungsspektroskopie von prozessierten und unprozessierten Halbleiterlasern (Hakki-Paoli, Transmissionsmethode, Optische-Strichlängenmethode)

Optische Bildgebung und neue Bildgebungssysteme

  • Klassische und spektroskopische optische Kohärenztomographie (OCT und SOCT)
  • Digitale und photorefraktive Holographie
  • Digitale holographische Mikroskopie
  • Einzelschussholographie
  • Photoakustik mit Halbleiterlasersystemen
  • Laser-Scanning und konfokale Mikroskopie
  • Optische Tomographie

Halbleiterlaserdynamik

  • Kurzpulsvermessung mittels Autokorrelation
  • Dispersions und Chirp-Messungen mittels FROG (Frequency resolved optical gating)
  • Dispersionskontrolle mittels evolutionärer Algorithmen und Spatial Light Modulators (SLMs)
  • Vier-Wellen-Mischen in Halbleiterlasern

Terahertztechnologie

  • Dauerstrich-THz-Spektroskopie und Bildgebung mittels zwei stabilisierter Halbleiterlaser
  • Time-Domain THz-Spektroskopie und Bildgebung mittels Faserlaser
  • Reflexions- und Transmissionstomographie und Bildgebung bei 300GHz